形貌分析

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材料的形貌尤其是纳米材料的形貌是材料分析的重要组成部分，材料的很多物理化学性能是由其形貌特征所决定的。对于纳米材料，其性能不仅与材料颗粒大小，还与材料的形貌有重要关系。形貌分析主要内容是分析材料的几何形貌、材料的颗粒度、颗粒的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。

纳米材料常用的形貌分析方法主要有：扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）。

检测标准：
1. JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
2. JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则